殘余應(yīng)力是指在材料及其制品在加工過程中產(chǎn)生的用以平衡材料或制品內(nèi)部的應(yīng)力。殘余應(yīng)力測試的方法一般可分為兩種：機(jī)械測量法和物理測量法。其中物理測量法有X射線法、磁性法和超聲波法等。
      它們大多是利用了晶體的X射線所發(fā)生的衍射現(xiàn)象和材料在應(yīng)力的作用下產(chǎn)生的磁性的變化和超聲效應(yīng)求得殘余應(yīng)力。在幾種殘余應(yīng)力測試的方法中，X射線法使用的是比較多的，也是目前比較成熟和比較的測試方法。而磁性法和超聲波法都還不是很成熟，但是卻是相當(dāng)有發(fā)展前途的兩種測試方法。
      機(jī)械方法有切割法、套環(huán)法和鉆孔法等，它是通過釋放被測點的應(yīng)力和采用電阻應(yīng)變計測量技術(shù)測出殘余應(yīng)力的。這種殘余應(yīng)力測試的方法是具有破壞性或半破壞性的，但是卻比較簡單和準(zhǔn)確。
      兩種殘余應(yīng)力測試的方法就功能上而言，機(jī)械方法是以測試宏觀的殘余應(yīng)力為目的的，而無力方法則是測試宏觀和微觀殘余應(yīng)力的綜合值。所以，相同的材料通過兩種方法所得到的結(jié)果一般也不相同。
       接下來主要介紹一下兩種：切割法和套環(huán)法。
      切割法是在測量部位劃出20*20mm的方格，將被測點框在中心處。在方格內(nèi)以一定的方向貼上應(yīng)變計和應(yīng)變花后，將英編輯和應(yīng)變儀連接，然后通電調(diào)平。然后切割方格線使被測點與其他部分分離，zui后測量應(yīng)變計所得到的釋放應(yīng)變。
       套環(huán)法一般用在一些大型構(gòu)件上。這種的原理和方法與切割法相同，但分離的技術(shù)卻與切割法不同。套環(huán)法是以被測點為圓心，劃半徑為15mm的圓，在圓內(nèi)貼片、通電調(diào)平。再在圓周線上連續(xù)鉆孔，使被測點與周圍分割開來。